新机� 新挑�?--粒度分析讲座邀请_中国粒度仪行业门戶�/title>

邀请函

由美国贝克曼库尔特公司主办的、应用专家Matthew N Rhyner 博士主讲�?ldquo;2012新机遇、新挑战---颗粒特性分析新技术讲�?rdquo;将于2012�?�?3日上� 9:30 �?2:30于中国北京清华大学环境学院举行、�/span>诚邀各界人仕参加、�/span>

讲座内容�?nbsp;
☆颗粒特性分析技术概冴�br /> ☆亚微米高分辨率PIDS专利技�?br /> ☆干粉分散的�� 龙卷�?rdquo;技�?br /> � 库尔特颗粒计数分析技�?br /> � 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技�?br /> � 固体及薄膜表面ZETA电位测量技�?br />

贝克曼库尔特商贸（中国）有限公司

2012�?�?8 �?/span>

（来源：（�/font>

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