Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微�?TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析、�/span>

全新设计80mm²的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数、�/span>UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , �?nbsp;200kV下EDS分析提供高质量数据、�/span>

·0.2 - 0.6 srad的立体角

·对低能量x射线的灵敏度可提�?倌�/span>

·可在400,000cps的计数率下进行定量分枏�/span>

在原位实验中，可�?000°C的温度下采集谱图

旗舰欽�/span>SDD传感器Ultim Max TLE＋�/span>搭载于透射电子显微�?TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息、�/span>

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的、�/span>

• 0.5 - 1.1srad的立体角

• 对低能量x射线的灵敏度可提�?倌�/span>

• 可在400,000cps的计数率下进行定量分枏�/span>

在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图

Xplore TEM是专门为120kV�?00kV 透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新�?nbsp;80mm²传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器�?nbsp;, 为用户提供快速和准确的元素表征、�/span>

• 0.1 - 0.4 srad的立体角

• 从Be到Cf的元素检浊�/span>

• 可在200,000cps的计数率下进行定量分枏�/span>

SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利�?/span>