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牛津仪器科技（上海）有限公司
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Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微?TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析、/span>
全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , ?nbsp;200kV下EDS分析提供高质量数据、/span>
·0.2 - 0.6 srad的立体角
·对低能量x射线的灵敏度可提?倌/span>
·可在400,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
·在原位实验中，可?000°C的温度下采集谱图
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