产品中心_大塚电子（苏州）有限公司

界达电位ELSZ

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多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa

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多通道分光光谱� MCPD-9800 6800

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显微分光膜厚仪OPTM series

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膜厚量测仪　FE-300

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膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列

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嵌入式膜厚仪FE-5000

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分光干渉式晶圆膜厚仪 SF-3

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高速配光测量系统GP-7

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分光配光测量系统　GP series

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全光束测量系统　HM/FM series

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高速LED光学特性仪　LE series

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量子效率测量系统　QE-2000/2100

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彩色滤光片分光特性测量装置　LCF series

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