产品信息

� 炸�/p>

� 可测�?nm开始的低（残留）相位差
� 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界*快速的0.1秒以下来处理（�br/>� 无驱动部，重复再现性高
� 设置的测量项目少，测量简協�br/>� 测量波长除了550nm以外，还有各种波镾�br/>� Rth测量、全方位角测野�br/>（需要option的自动旋转倾斜治具
� 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾�?br/> (本系统属特注。）

测量项目

� 相位差（ρ[deg.], Re[nm]（�br/>� 主轴方位角（θ[deg.]（�br/>� 椭圆率（ε）・方位角（γ（�br/>� 三次元折射率（NxNyNz（�/p>

用　逓�/p>

� 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
� 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等（�/p>

原　琅�/p>

� 什么是RE-200
� RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能、�/p>

仕　栶�/p>

Option
� Rth测量、全方位角测量※治具本体（旋转�?80°, 倾斜：�?0°（�br/>� 动旋转倾斜治具