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大塚电子(苏州)有限公司
证:工商信息已核宝br /> 访问量:130847
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产品简今/div>
产品信息
特 炸/p>
采用了偏光光学系和多通道分光检出器
有可对应各种尺寸的装置,?mm大小的光学素子到?0代的大型基板
安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设夆/p>
测量项目
封入cell gap
twist *
rubbing *
pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA *
空cell gap *
相位差(复折射相位差)的波长分散 *
光学 *
椭圆?方位 *
三次元折射率/Rth/β *
分光光谱/色度*
测量对象
液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA(br/> 光学材料
- 其他(相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料)
仕 栶/p>
型号 |
RETS series |
---|---|
样品尺寸 |
20mm×20mm ? |
cell gap测量范围 |
0.1μm ~数10μm |
cell gap重复?/p> |
±0.005μm |
检出器 |
多通道分光光度讠/p> |
测量波长范围 |
400nm 800nm |
光学糺br/> 透过用偏光子unit |
偏光光学糺br/> 消光 10-5内置Gran-tomson prism(方解石(br/> 自动旋转(角度精?.1°)、自动装卸机枃/p> |
测量口径 |
φ2, φ5, φ10 (mm) |
光轴倾斜机构 |
-20 45°?45 45°筈/p> |
测量案例
相位差与液晶层间隙倻br/>
液晶面内分布国br/>
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