RETS-100nx相位差测量仪是OLED圆偏光片、叠层补偿膜、IPS液晶用带补偿偏光片等各种薄膜的光学延迟量测量系统。实现非破坏、叠层无需分离的原位测量。RETS-100nx可以高速、高精度测量60,000nm的极高相位差(延迟?、/p>
简洁、人性化的测量软件，极大地缩短测量与处理时间。此外，轴角度补正功能可以消除因放置而导致的误差。您可以轻松获得高精度测量结果、/p>
?nbsp;
采用本公司光谱仪实现高精度测野/strong>
1) 高精?/span>
多波长测量实现高精度
说明1: 对于光学原理上难以测量的λ/4, λ/2处的延迟量，通过附近数据拟合求得、/span>
说明2: 测量结果不受膜厚干涉波形的影响、/span>
[高精度的关键]
· 搭载本公司高精度MCPD光谱仪、/span>
· 获取?00个波长的透过率，是其他公司产品的?0倌/span>
2) 0~60,000nm相位?延迟?的宽测量范围
可以在相同强度下计算其他波长数据
3) 测量相位?延迟?的波长色敢/span>
也可以测量逆向分散样品
?nbsp;测量范围涵盖了超高相位差(光学延迟?——可以高速、高精度测量补偿膛/strong>
?nbsp;多层薄膜测量——可以测量各种薄膜的层叠状态，无需分离或破坏样?/strong>
轴角补正功能——样品未对准也可测量，且重复性好
重复放置样品 10 次，比较有无校正功能的测量结枛/span>
[样品：延迟膜 R85]
简洁、人性化的测量软件——大幅缩短测量和处理时间
?nbsp;
测量项目
薄膜, 光学材料
|
延迟?波长色散), 慢轴, Rth*,三次元折射率(nxny nz)* 筈/span> |
| 偏光牆br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; overflow-wrap: break-word !important;"/> |
吸收? 偏振?偏光?, 消光? 各种色度, 各种透过 筈/span> |
| 液晶监br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; overflow-wrap: break-word !important;"/> |
液晶盒厚(Cell gap), 预倾角*, 扭曲? 配向 筈/span> |
*需要自动倾斜样品?/span>
?nbsp;栻/span>
相位?延迟?测量范围
|
0 ~ 60,000nm
|
| 相位?延迟?的重复精?/span> |
3σ?.08nm(晶体波片 ?00nm)
|
| CellGap测量范围 |
0 ~ 600μm(Δn=0.1)
|
| CellGap的重复?/span> |
3σ?.005μm(液晶?nbsp;?μ? Δn=0.1)
|
| 轴的重复精度 |
3σ?.08°(晶体波片 ?00nm)
|
| 测量波长 |
400 ~ 800nm(提供其他波长可?
|
| 检测器 |
光谱?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; overflow-wrap: break-word !important;"/> |
| 测量光斑 |
φ7?标准规格)
|
| 光源 |
100W 卤素?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; overflow-wrap: break-word !important;"/> |
| 样品?标准) |
100 x 100?固定样品?
|
| 装置尺寸 |
480(W) x 520(D) x 765(H)mm
|
| 选配 |
· 超高相位?延迟?测量 · 多层测量 · 轴角补正功能 · 自动 XY 样品?/span> · 自动倾斜样品?/span> |
光学?nbsp;
固定样品?nbsp;
自动 XY 样品?nbsp;
自动倾斜样品?/span>
