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澳谱特科技(上海)有限公司
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产品分类
纳米粒度?/a>
图像粒度?/a>
产品简今/div>
Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出独特的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越低,胶体系统稳定性就越差,因此通过测量和调整体系的Zeta电位,就可以控制胶体的稳定性。因此,Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究、/p>
技术类垊/span> |
Zetatronix?39系列查看详情 采用多角度动态光散射技术,提供更高分辨率的粒度测量结果 |
Zetatronix?29系列查看详情 采用背向动态光散射技术,可以测量高浓度样品的粒度 |
Zetatronix?19系列查看详情 采用经典动态光散射技术测量粒?/span> |
经典动态光散射'/span>DLS(/span> |
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背向动态光散射'/span>BSDLS(/span> |
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多角度动态光散射'/span>MADLS(/span> |
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测量角度 |
11°?0°?75° |
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测量类型 |
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粒度 |
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Zeta电位 |
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分子野/span> |
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温度/时间趋势 |
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解决方案
纳米粒度仪的测量下限 | 下载0欠/td> | 2021-01-19 |
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