ResMap四探针测试仪

ResMap四探钇�/strong>电阻率测试仪

ResMap CDE273四探针太阳能硅片电阻率测试仪

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪简介：

四探针太阳能硅片电阻率测试仪

光伏测试专用美国ResMap四点探针

ResMap CDE273四探针电阻率浊�/strong>试仪的特点如简述如上�

* 高速稳定及**自动决定范围量测与传送，THROUGHPUT�

* 数字方式及每点高�?000笔数据搜集，表现良好重复性及再现�

* Windows 操作接口及软件操作简�

* 新制程表现佳(铜制程低电阻�?.67m��-cm及Implant高电�?K��/□以上，皆可达成高精确度及重复�?

* 体积小，占无尘室面积�

* 校正简单，且校正周期长

* 可配合客户需求，增强功能与适用�

* 300mm 机种可以�?~4个量测头，并且可以Recipe设定更换

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的�

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪主要特点：

测量范围广，精度高，稳定性好，功能齐全强大，软件好用，维修成本低，服务好，配件齐�?..

美国进口四探针电阻率测试�?4PP)/方块电阻测试�?太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)�

设备名称: 四点探针电阻� (CDE ResMap)

主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap

规格:

1. Pin material: Tungsten Carbide.

2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.

3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶� (表面须为平整的导电薄膜，半导体材�?

设备用逓� 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏

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特点９�/p>

1）针尖压力一至�/p>

2）适用于各种基底材斘�/p>

3）友好的用户界面

4）快速测野�/p>

5）数据可存储

应用９�/p>

1）方块电�

2）薄片电�

3）掺杂浓�

4）金属层厚度

5）P/N类型

6）I/V测试

ResMap CDE273四探针电阻率测试�?/strong>测试性能指标９�/span>

探针材料 WC

探头寿命> 500W欠�/span>

Resmap168�?78�?73区别９�/span>