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应力双折射测量仪
应力双折射测量仪的图?/></a></div></div></div>         <div class=
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暂无
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日本
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产品简今/div>

在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息、/span>

应力双折射测量仪主要特点9/span>

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒、/span>

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广、/span>

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点、/span>

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较、/span>

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构、/span>

  • 高达2056x2464像素的偏振相机、/span>

应力双折射测量仪应用领域:
  • SIC

  • 蓝宝矲/span>

应力双折射测量仪技术参数:

项次 项目 具体参数
1 输出项目 相位差【nm】,轴方向?#176;】,相位差与应力换算(选配)【MPa【/span>
2 测量波长 520nm
3 双折射测量范図/span> 0-130nm
4 测量*小分辨率 0.001nm
5 测量重复精度 <1nm(西格玛(/span>
6 视野尺寸 40x48mm?40x320mm(标准)
7 选配镜头视野 不适用
8 选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控刵/span>
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