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PHL应力双折射测量仪PA-300
PHL应力双折射测量仪PA-300的图?/></a></div></div></div> <div class=
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日本
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高级会员 2平/div> 称： 北京欧屹科技有限公司
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产品简今/div>

主要简介：

PA系列是日?/span>Photonic lattice公司倾力打造的双折尃/span>/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到运/span>500毫米、/span>PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测野/span>/应力测量的选择、/span>

主要特点９/span>

  • 操作简单，测量速度可以快到3秒、/span>

  • 视野范围内可一次测量，测量范围广、/span>

  • 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点、/span>

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较、/span>

  • 维护简单，不含旋转光学滤片的机构、/span>

  • 高达2056x2464像素的偏振相机、/span>

应用领域９/span>

  • 光学镜片

  • 智能手机玻璃基板

  • 碳化硅，蓝宝石等

技术参?/span>９/strong>

项次 项目 具体参数
1 输出项目 相位差【nm】，轴方向?#176;】，相位差与应力换算（选配）【MPa【/span>
2 测量波长 520nm
3 双折射测量范図/span> 0-130nm
4 测量*小分辨率 0.001nm
5 测量重复精度 <1nm（西格玛（/span>
6 视野尺寸 27x36mm?9x132mm（标准）
7 选配镜头视野 低至7x8.4（扩束镜头）
8 选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控刵/span>
测量案例９/span>

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