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PHL残余应力测量?/div>
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暂无
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日本
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产品简今/div>
主要简介:

WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成?***的光学测量产品 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器,*适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据、/span>

主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒、/span>

  • 采用CCC/span>Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广、/span>

  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据、/span>

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较、/span>

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构、/span>

  • 可测样品尺寸更大、/span>

主要应用9/strong>

光学零件(镜片、薄膜、导光板(/span>

透明成型品(车载透明零件、食用品容器(/span>

透明树脂材料'/span>PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC(/span>

透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石(/span>

有机材料(球晶?/span>FishEve(/span>

技术参?/span>9/span>

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差』/span>nm】,轴方向』/span>】,相位差与应力换算(选配)』/span>MPa【/span>

2

测量波长

520nm?/span>543nm?/span>575nm

3

双折射测量范図/span>

0-3500nm

4

测量*小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛(/span>

6

视野尺寸

33x40mm-240320mm(标准)

7

选配镜头视野

34-12.917.2mm

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控刵/span>

测量案例9/strong>

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