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残余应力测量仪PA-Micro
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日本
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PA系列是日?/span>Photonic lattice公司倾力打造的双折尃/span>/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到运/span>500毫米、/span>PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测野/span>/应力测量的选择、/span>

主要特点9/span>
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒、/span>

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广、/span>

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点、/span>

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较、/span>

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构、/span>

  • 高达2056x2464像素的偏振相机、/span>

应用领域9/span>

  • 通信光纤

  • 晶体

技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差』/span>nm】,轴方向』/span>】,相位差与应力换算(选配)』/span>MPa【/span>

2

测量波长

520nm

3

双折射测量范図/span>

0-130nm

4

测量*小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛(/span>

6

视野尺寸

142x170um?/span>3.5x4.2mm(2+/span>5+/span>10+/span>20+/span>50)

7

选配镜头视野

旟/span>

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控刵/span>

测量案例9/span>
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