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PHL应力双折射仪?/strong>
PHLPA-micro显微型应力双折射?/strong>
PHL应力双折射仪器简介：
应力双折射仪＋span>能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域、/span>
日本Photonic-lattice成立?996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技?*世界，并由此开发出的测量仪器、/span>
PHL应力双折射仪?/strong>显微镜下快速测量PA-Micro９/strong>
型号 |
PA-Micro |
测量范围 |
0-130nm |
重复?/span> |
<1.0nm |
像素?/span> |
1120x868 |
测量波长 |
520nm |
尺寸 |
250x487x690mm |
观测到的**面积 |
5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm?0倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um. |
自身重量 |
11kg |
数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号） |
电压电流 |
AC100-240V?0/60Hz（/span> |
软件 |
PA-View（for Micro（/span> |
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