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应力双折射仪
WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪
应力双折射仪器简介：
应力双折射仪＋span>能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域、/span>
日本Photonic-lattice成立?996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器、/span>
PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO
匹配显微镜测量双折射
测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶佒/span>
薄膜、金属晶体、不透明基板等材斘/span>
在显微镜视场下评估和管理双折射分市/span>
PHL应力双折射仪器参数：
型号 |
WPA-Micro |
测量范围 |
0-4000nm |
重复?/span> |
<1.0nm |
像素?/span> |
384x288 |
测量波长 |
523nm?43nm?75nm |
尺寸 |
250x487x690.0mm |
观测到的面积 |
5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm?0倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um. |
自身重量 |
11kg |
数据接口 |
GigE（摄像机信号 RS232C（电机控制） |
电压电流 |
AC100-240V?0/60Hz（/span> |
软件 |
WPA-View（for Micro（/span> |
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