PHL应力�?/span>

PHL应力双折射仪

PHLWPA-100应力双折射测试仪�?/span>

PHL应力双折射测试仪简介：

PHL应力双折射仪＋�span>能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域、�/span>

日本Photonic-lattice 成立�?996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的吇�/span>资公司，尤其是其光子晶体制造技�?*世界，并由此开发出的测量仪器、�/span>

Photonic Lattice主要产品分四部分９�/span>

• Photonic Lattice光子晶体光学元件：�/strong>

• Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；

• Photonic Lattice膜厚测试仪；

• Photonic Lattice偏振成像相机、�/strong>

Photonic Lattice双折射测量系� WPA-100，WPA-100-L

Photonic LatticeWPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品、�/span>

Photonic LatticeWPA-100-L 可观察更大视野范図�/span>

PHLWPA-100应力双折射测试仪主要参数表：

型号 WPA-100 WPA-100-L

测量范围 0-4000nm

重复� <1.0nm

像素� 384x288

测量波长 523nm�?43nm�?75nm

产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm

观测到的**区域 100x136mm 250x340mm

重量 20kg 26kg

数据接口 GigE（摄像机信号� RS232C（电机控制）

电压电流 AC100-240V�?0/60Hz（�/span>

软件 WPA-View

适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S

专为小镜头（10mm）双折射测量而设讠�/span>

配备自动选择圆形区域，相位差值传逑�/span>

失败判断功能，特别适合树脂镜片成型

的质量控制、�/span>

主要参数�?/strong>

型号 WPA-100-S

测量范围 0-4000nm

重复� <1.0nm

像素� 384x288

测量波长 523nm�?43nm�?75nm

产品尺寸 200x275x309.5mm

观测到的**面积 11.6x15.8mm

自身重量和电源重� 4kg �?kg

电压电流 AC100-240V�?0/60Hz（�/span>

软件 WPA-View