4站全自动比表面及孔径分布分析仪静态容量法

4站比表面及孔径分布分析仪V-Sorb 4800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪�?采用静态容量法测量原理,众多**科研院所�?00强企业应用案�?相比国内同类产品,金埃谱比表面及孔径分布分析仪多项**技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱比表面及孔径分布分析仪测试结果的准确性和一致性进一步提�?金埃谱比表面及孔径分布分析仪测试过程的稳定性更�?金埃谱比表面及孔径分布分析仪达到国际同类产品**,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国�?早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行�?*,并获取权威认证机构的检测证�?同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模**,**通过ISO9001质量认证的生产企�?雄厚实力和完善的质量及服务体�?让您选购的产品无后顾之忧!

4站全自动比表面及孔径分布分析仪技术参�?/p>

测试方法及功胼�真空容量�?真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分�?样品真密度测�?t-plot图法微孔分析,MP法微孔分�?HK法微孔分�?BET法比表面积测�?单点及多�?,Langmuir法比表面积测�?平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测宙�/p>

测量范围�?.0005(m2/g�?-至无上限（比表面积）�?.35nm-2nm（微孔）�?nm-500nm（中孔或介孔（�/p>

测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%�?可几孔径重复偏差�?.02nm

真空系统� V-Sorb**的集装式管路及电磁阀控制系统�?*技�? 软著�?330201号），大大减小管路死体积空间，提高检测吸附气体微量变化的灵敏度，从而提高孔径分布测定的分辨率；同时集装式管路减少了连接点，大大提高密封性和仪器使用寿命、�/p>

液位控制：V-Sorb**的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除因死体积变化引入的测量误差、�/p>

测试模式:V-Sorb**的集成“单一氮气测试模式”和“氮�?氦气标准测试模式”于一�?供客户根据实际需要选择使用;采用“氮�?氦气标准测试模式�?符合国际标准,可确保结果的准确性和一致�?且操作简協�对于低温下可吸附氦气的样�?不适宜采用氦气测定的死体积空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.

控制系统：采用可编程控制器电磁阀控制系统，高集成度和抗干扰能力，提高仪器稳定性和使用寿命、�/p>

样品数量：同时进�?个样品分析和4个样品脱气处�?样品测试系统和样品处理系统相互独�?并且样品测试和样品脱气处理可以同时进�?避免了测试管路受到污�?从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿呼�/p>

压力测量：用压力分段测量的进口硅薄膜电容式双压力传感�?显著提高� P/Po点下测试精度,2�?-1000 Torr(0-133Kpa), 2�?-1 Torr (0-0.133Kpa),压力传感器必须提供相应进口检测证�?/p>

压力精度：高精度进口硅薄膜电容式压力传感�?精度达实际读数的0.15�?优于全量程的0.15�?远高于皮拉尼电阻真空计精�?一般误差为10%-15�?

真空泴�进口双极真空泵可以实现外置和内置仪器中二种放置方�?内置仪器中可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿呼�/p>

液氮杯：采用进口4升大容量不锈钢内胆杜瓦瓶,经久耐用,不易破损,在无需增加保温盖的条件下可连续进行72小时测试，无需添加液氮，能完全满足孔径长时间测试需汁�/p>

分压范围� P/Po 准确可控范围�?x10�?�?.998

极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2�?99.999%)或其�?按需选择如Ar,Kr)

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差�?抗干扰能力强

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简�?多种模式数据分析,图形化数据分析结果报�?/p>

4站全自动比表面及孔径分布分析仪特炸�/p>

A.比表面及孔径分布分析仪真空系绞�/p>

1)**的一体化集装式管路系�?采用进口集装管路,显著减少管路连接�?大大降低漏气�?提高极限真空�?

2)模块化结构设�?一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩�?有利于维修更捡�

3)采用德国原装进口的真空泵,噪音�?运行稳定,防油返功�?*,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr).

B.比表面及孔径分布分析仪控制系绞�/p>

1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提�?安装及拆卸都非常方便;

2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.

C.比表面及孔径分布分析仪提高测试精度措於�/p>

1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感�?压力测量精度为相应读数的0.15�?远远优于0.15％的全量程精�?FS)传感�?

2)与国外同类产品类�?采用0�?0Torr�?�?000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测�?大大降低了低真空下的测量误差,0�?0Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空�?一般误差为10%-15�?;

3)**的一体化集装式管路系�?采用进口集装管路,显著减少管路连接�?大大减少死体积空�?有利于降低测量误�?

4)**的步进式液氮面控制系�?确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误�?

5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损�?保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂�?

D.比表面及孔径分布分析仪数据采集及处理

1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差�?抗干扰能劚�采用业界标准�?85通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方桇�强大的测试数据归档保�?查询系统,有利于用户数据管�?