4站全自动孔径分布及比表面测量�?/span>V-Sorb 4800介绍:金埃谱科技是孔径分布及比表面测量仪,比表面积�?比表面积测试�?比表面积分析�?比表面积测定�?孔径分析�?孔隙率测定仪,比表面积和微孔分析仪,孔径分布测试�?比表面及孔隙度分析仪国产实现真正完全自动化智能化测试技术的开拓者和**�?多项独特技术已成为业内厂商仿效典范.

4站全自动孔径分布及比表面测量�?/span>性能参数

测试方法及功胼�氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分�?样品真密度测�?t-plot图法微孔分析,MP法微孔分�?BET法比表面积测�?单点及多�?,Langmuir法比表面积测�?平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测宙�

测定范围:0.01(�?g)--至无上限(比表面积),0.35nm-2nm(微孔)2nm-400nm(中孔或介�?;

测量精度:重复性误差小�?.5%;

真空系统:V-Sorb**的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空�?提高检测吸附气体微量变化的灵敏�?从而提高孔径分布测定的分辨玆�同时集装式管路减少了连接�?大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误�?

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处琅�

压力测量:采用原装进口压力传感器测量压�?显著提高 P/Po点的测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa);

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15�?优于全量程的0.15�?远高于皮拉尼电阻真空计精�?一般误差为10%-15�?;

分压范围:P/Po 准确可控范围�?x10�?�?.995;

极限真空:4x10�?Pa(3x10�?Torr);

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2�?99.999%)或其�?按需选择如Ar,Kr);

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差�?抗干扰能力强;

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简�?多种模式数据分析,图形化数据分析结果报�?

4竘�span style="font-family:宋体">孔径分布及比表面测量�?/span>V-Sorb 4800是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪�?采用静态容量法测量原理,众多**科研院所�?00强企业应用案�?相比国内同类产品,多项**技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提�?测试过程的稳定性更�?达到国际同类产品**,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国�?早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行�?*,并获取权威认证机构的检测证�?同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模**,**通过ISO9001认证的企�?雄厚实力和完善的质量及服务体�?让您选购的产品无后顾之忧!

4站全自动孔径分布及比表面测量�?/span>特点

A.孔径分布及比表面测量�?/span>真空系统

1)**的一体化集装式管路系�?采用进口集装管路,显著减少管路连接�?大大降低漏气�?提高极限真空�?

2)模块化结构设�?一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩�?有利于维修更捡�

3)采用德国进口的真空泵,噪音�?运行稳定,防油返功�?*,极限真空度高,可达4x10�?Pa(3x10�?Torr);

B.孔径分布及比表面测量�?/span>控制系统

1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提�?安装及拆卸都非常方便;

2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染;

C.孔径分布及比表面测量�?/span>提高测试精度措施

1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感�?压力测量精度为相应读数的0.15�?远远优于0.15％的全量程精�?FS)传感�?

2)与国外同类产品类�?采用0�?000Torr压力传感器测量压�?大大降低了测量误�?硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15�?;

3)**的一体化集装式管路系�?采用进口集装管路,显著减少管路连接�?大大减少死体积空�?有利于降低测量误�?

4)**的步进式液氮面控制系�?确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误�?

5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损�?保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂秺�

D.孔径分布及比表面测量�?/span>数据采集及处琅�/p>

1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差�?抗干扰能劚�采用业界标准�?85通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方桇�强大的测试数据归档保�?查询系统,有利于用户数据管�?

4站全自动孔径分布及比表面测量�?/span>V-Sorb 4800应用领域:吸附�?如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子�?活性炭,硅酸�?海泡�?沸石�?;陶瓷原材�?如氧化铝,氧化�?硅酸�?氮化�?二氧化硅,氧化�?氮化�?石英,碳化硅等);橡塑材料补强�?如炭�?白碳�?纳米碳酸�?碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸�?石墨,镍钴酸锂,氧化�?磷酸铁锂,钛酸�?三元�?三元素材�?聚合�?聚合物材�?聚合物电池材�?碱锰材料,锂离子材�?锂锰材料,碱性材�?锌锰材料,石英�?镁锰材料,碳性材�?锌空材料,锌汞材料,乙炔�?镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物�?添加�?导电�?缓蚀�?锰粉,电解二氧化锰,石墨�?氢氧化亚�?泡沫�?改性石墨材�?正极活性物�?负极活性物�?锌粉�?;金属氧化�?如氧化锌,氧化�?氧化�?氧化�?氧化�?氧化�?氧化铜等);磁性粉末材�?如四氧化三铁,铁氧�?氧化亚铁�?;纳米金属材料(如纳米银�?铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉�?;环保行业(如颜填料,柱填�?无机颜料,碳酸�?氧化�?矿物�?沉积�?悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白�?二氧化钛�?;纳米材料(如纳米粉体材�?纳米陶瓷材料�?;稀�?煤炭(粉煤�?,水泥(矿渣�?,储能材料,催化�?硅藻�?,净化剂,助滤�?土壤,黏土,石油断裂�?发光稀土粉末材�?荧光�?,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分�?广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监�?