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南京伯奢咏怀电子科技有限公司
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产品分类
半导体行业专用仪?/a>
其他
四探针测试系统(手动款)
四探针测试系统(自动款)
(等离子)原子层沉积系统(PE)ALD
经济型探针台(Probe Station?000A
经典型探针台(Probe Station?000A
高温型探针台(Probe Station?000C
试验朹/a>
多功能摩擦磨损试验机
高温高压超临界水(SCW)摩擦磨损试验机
光谱检测分析仪
显微拉曼光谱测试系统
紧凑型共聚焦显微拉曼Mapping测试系统
锂电行业专用测试系统
光学仪器及设夆/a>
台式OLED光电检测仪
纯化设备
产品简今/div>
产品简介:
维修期间材料机械性能的变化揭示了部件的健康和完整性。在使用关键部件的情况下,并非总是能够提取标准试样以进行实验室测试。在这种情况下,需要对服务组件进行现场无损检测,该自动宏压痕测试仪(AMIT)被设计和专门由Ducom Instruments制造,并且由授权经销商Ducoms的网络单独地分布、/span>
可以根据材料的性质选择所需球半径的压头。当测试场地粗糙或有沉积物,铁锈或油漆覆盖时,可以在使用研磨机附件进行测试之前清洁目标区域。自动宏缩进测试仪(AMIT)由软件控制
产品特征9/span>
Ducom自动压痕测试仪提供了一种原位非破坏性的方法
来确定与老化有关的组件材料性能变化、/p>
先进的设计,基于软件的操作,数据采集和分枏/p>
用于管道现场测试和小样品台架测试的适配器、/p>
球形压痕直径小于1毫米,因此几乎是无损检测、/p>
测试是局部的,非常适合焊接区域和热影响区、/p>
应变或应力控制的装卸曲线、/p>
痕区域的校正系数以考虑堆积/下沉、/p>
一键式表面完整性评估,节省时间和舒适度、/p>
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