研磨抛光材料粒度/粒形检测方法及影响因素


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[导读]研磨抛光材料粒度/粒形检测方法及影响因素

www.188betkr.com 讯研磨抛光技术是当下把控电子制造业发展的一项关键技术,也是关系到产品质量水准的一大关键因素,研磨抛光本质上是为了获得超光滑、超精密、无损伤、无缺陷的晶圆表面,以方便后续光刻得以顺利进行。为了能够达到高质量的表面质量,工艺、设备、抛光液等生产工艺的每一环都至关重要,精密的检测设备、工艺流程评价体系则又是使整个加工过程得以顺利进行的保障——其中对磨料负责的颗粒检测则是重中之重。


在抛光过程中,抛光液中的化学添加剂和材料表面发生反应,会在被抛材料表面形成一层很薄、结合力较弱的“软化层”,之后磨粒在压力和摩擦作用下对材料表面进行细微无损地去除。在集成电路制造的前道工序(FEOL)、中道工序(MOL)、后道工序(BEOL)需要对多种不同材料(如SiO2、Cu、Co、W、低K介质等)进行平坦化,抛光液中的磨料会以微切削、滚压等方式作用于加工产品表面,以去除表面材料。


磨料的粒径、形状、分散度、硬度、浓度等因素会在不同程度上影响着产品表面去除效率、效果。


粒径:


粒径分布宽对粗糙表面的适应性会更好,大颗粒可以迅速去除材料,小颗粒可以进入细小凹陷处进行精细抛光,但也导致加工表面的均匀性较差,需要后续处理;粒径分布窄虽然加工表面的一致性较好,但整体抛光和磨削的效率低。


形貌:


球形或类球形颗粒接触表面的压力分布均匀,有利于减少划痕和表面缺陷,但由于接触面积小而存在效率不足的问题;片状颗粒可以减小磨削过程中产生的划痕,从而提高晶圆表面的质量,但容易破碎和磨损,需要频繁更换或补充;还有比如抛光液放置的时间过长,可能会使抛光液中的磨料发生团聚,继而导致抛光过程和质量失控等问题……


对于不同工序的不同要求,颗粒检测就是有效规避风险,控制影响因素,从而提高产品的稳定性、可靠性的重要手段。


研磨抛光技术在集成电路芯片的制作中具有重要作用,针对高端研磨抛光相关的技术、材料、设备、市场等方面的问题,www.188betkr.com 将于2025年4月16日河南郑州举办2025第二届高端研磨抛光材料技术大会。届时,丹东百特仪器有限公司销售经理任旭将作题为《研磨抛光材料粒度/粒形检测方法及影响因素》的报告。


专家简介:


任旭,毕业于沈阳工业大学,现任丹东百特仪器有限公司销售经理,自加入百特一直深耕粒度仪的测试技术研究和销售工作,具有扎实的理论背景,同时又具有多年的颗粒表征实践经验,对于粒度检测方法的研究具有较为深刻的理解。


参考来源:

[1] www.188betkr.com

[2] 许宁等,CeO2基磨粒在化学机械抛光中的研究进展


(www.188betkr.com 编辑整理/山林)

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