飞纳电镜持续创新
系列一
01
“你这个位置是哪里拍的?其他位置什么情况?整个样品上裂纹的走势是什么样的?”
作为失效工程师,收到老板或同事的灵魂拷问,是不是常常让你头疼?
02
“你这个太局部了,不具有代表性,其他位置什么情况?”
明明是供应商产品的问题,但强势的甲方的诡辩总让你无奈不已?
03
“小张,我要整个组织切片的全貌,请确保拍下来。”
导师的要求太天真,臣妾做不到?
别担心,飞纳电镜 MAPS 系统帮你解决这些问题!
2024 年,飞纳发布革命性的数据采集及阅读系统Phenom MAPS。该系统不仅彻底革新了数据存储的方式,还为 SEM 表征与数据分析开启了“上帝视角”,帮您轻松掌握每一个细节,不再需要费力解释。
今天,我们来详细了解一下这款为科学家们提供“上帝视角”的飞纳电镜 MAPS 系统。
No.1 :多图层数据采集及阅读系统
PHENOM MAPS
“人如其名”,MAPS 是地图的意思,该系统会像百度地图一样,通过层级的方式,实现对样品的拍摄与数据回看。Phenom MAPS 提供的是一个涵盖所有样品信息的数码存档,从全面(宏观)到具体(微观)无所不包,彻底变革了传统扫描电镜的分析与数据存储模式。并且,多图层数据可以包含能谱。
No.2 :大面积成像拼接,完全无痕!
PHENOM MAPS
导师再让我拼全图,我会大声回答:我“朕”的可以!
No.3:大面积能谱分析,地质行业最爱!
PHENOM MAPS
这里是一个地质样品的能谱拼图结果,Phenom MAPS 可以实现对整个样品的能谱采集,导出任意拼接的原始能谱数据,以方便进行离线分析。
有相关需求的客户,可以识别下方二维码留言联系我们:
No.4 :CISA,关联一切可视化图片
PHENOM MAPS
光镜、拉曼、红外、XPS,甚至 CAD 或手绘草图,通通可以关联。下图案例:通过 MAPS CISA,将 SEM 和 XPS 面分布以及全谱分析的功能相结合,分析多孔砂粒子的表面组成和形貌。
通过结合 XPS 和 SEM 的分析,可以精确地将化学信息与显微镜提供的高分辨率结构信息融合。CISA 关联工作流程尤其适用于研究电池、高分子材料、催化剂和金属等样品的材料研究。
总结
飞纳电镜 MAPS 系统不仅是一个自动化的图像、能谱采集工具,更是一个革命性的数码存档和关联数据分析平台。通过地图化的多层级扫描电镜和能谱数据采集及关联系统,为您提供多模态的“上帝视角”,全面掌握显微镜数据,不再错过任何细节。