新品:百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta Pro-丹东百特


来源:丹东百特仪器有限公司

[导读]近日,丹东百特仪器有限公司发布百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta Pro新品

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶级光学检测系统。 该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分 布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可 广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的 基础研究和质量分析与控制。

180Zeta-PRO.jpg

基本性能指标


粒径检测

原理 动态光散射技术
粒径范围 0.3 nm – 15 μm
样品量 3 μL – 1 mL
检测角度 173 °+90 ° + 12°
分析算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate电位测试

原理 相位分析光散射技术
检测角度 12°
Zeta范围 无实际限制
电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s
电导率范围 0 - 260 mS/cm
Zeta测试粒径范围 2 nm – 110 μm

分子量测试

分子量范围 342 Da – 2 x 107Da

微流变测试

频率范围 0.2 – 1.3 x 107rad/s
测试能力 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试

粘度范围 0.01 cp – 100 cp
折光率范围 1.3-1.6

趋势测试

时间与温度

系统参数

温控范围 -15°C - 110°C +/- 0.1°C
冷凝控制 干燥空气或者氮气
相关器 50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
电泳迁移率范围 最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
检测器 APD (高性能雪崩光电二极管)
光强控制 0.0001% - 100%,手动或者自动

软件

中文和英文 符合21CFR Part 11



检测参数


●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度



检测技术

●动态光散射

●静态光散射

●电泳光散射




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