Litesizer DLS系列是安东帕公司的动态光散射粒度/Zeta 电位分析仪产品，用于表征从纳米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 电位、分子量、粒子浓度、透光率等特性，具有适用浓度范围宽、一键操作完成测试、功能全面等优点。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了优秀销售和应用成绩的基础上，安东帕推出了功能更为强大的Litesizer DLS 700。
安东帕 Litesizer DLS 700
动态光散射粒度分析仪
携全新复杂基质测试方案登场：
MAPS系统：复杂样品的简单方案
PCON系统：样品中不同颗粒浓度及总浓度的直观表达
MAPS多角度联合测试
简单的单峰样品测试已无法满足日益多样的测试需求，Litesizer DLS 700 正式推出多峰样品的最佳测试方案：
MAPS 系统拥有更高的分辨率，解决复杂样品的粒径问题；更准确的粒径分布结果；更优秀的分离度，粒径比例大于1：2 即能准确分辨。
不同角度分管样品中不同大小颗粒的结果，将其连立计算，即可获得，不同大小颗粒的准确结果。
实验分析
NIST 标准物质：
已知粒径分别为150nm和300nm（粒径大小比值为1：2），将两者混合，混合比为3:1
用背散射角测量/MAPS测量
使用Maps进行三角度测量
背散射角度测试显示单峰
背散射测量只显示一个峰值无法将其分为双峰，MAPS 结果，准确的解出了两个峰值。
Litesizer DLS 700 测试显示双峰
PCON颗粒浓度测试
借助PCON 系统强大的功能，现在您可以更了解样品中颗粒的浓度。Litesizer 700 不单单提供样品中颗粒的总浓度，通过 MAPS 对样品进行解析，还可以确定不同大小颗粒各自的浓度。
结果显示：峰大小、相应浓度、总浓度
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