随着现代混凝土技术的发展,用户对水泥的性能要求不断提高,水泥颗粒粒径分布及颗粒形貌对水泥性能的影响逐渐受到水泥生产企业的重视。天津水泥工业设计研究院有限公司新采购了一台RETSCH TECHNOLOGY(莱驰科技)的多功能粒径及粒形分析仪CAMSIZER X2,近日莱驰科技粒度仪产品经理王瑞青先生携技术工程师袁石峰先生前往用户单位进行安装调试,并与中材国际研究总院的范总共同探讨动态图像法对水泥颗粒粒度大小、形貌的表征以及具体研究方法。
天津水泥工业设计研究院简介
天津水泥工业设计研究院有限公司(英文缩写 TCDRI ),简介:天津水泥工业设计研究院有限公司成立于1953年,是中国最早建立的主要大型国家骨干工业设计院之一——中国建材行业中实力最雄厚的甲级设计院。2000年改制成为中央直属科技型企业,2005年根据国务院国资委的要求,与中国材料工业科工集团进行战略性重组,整体并入中国材料工业科工集团。2007年 1 月 1 日,经中国材料工业科工集团公司批准,重组改制为天津水泥工业设计研究院有限公司并正式对外营业。
随着人们对水泥颗粒粒径分布对水泥性能影响认识的提高,从调节和控制水泥的颗粒粒径分布入手,解决水泥的工作性不好所产生的问题,逐渐成为水泥生产中的重要一环。水泥的性能与水泥颗粒的粒径分布有很大关系,在比表面积相同的条件下,水泥颗粒的粒径分布越窄,水泥的需水量越大,与外加剂的适应性越差,水泥颗粒的粒径分布越宽,水泥的需水量就越小,与外加剂的适应性也会变好。目前,我国水泥企业生产的水泥需水量普遍较高,水泥的工作性不好成为影响水泥质量的主要方面,如何对水泥粉末的颗粒粒径分布进行调节和控制,使其适当变宽,从而降低水泥的需水量,是水泥生产企业非常关心的问题。
天津水泥工业设计研究院有限公司作为中国水泥工业科技发展和技术进步的引领者,不断推动着中国水泥工业的技术研发与产品质量的稳步提高。首先,莱驰科技的产品经理王瑞青先生对范总表示了衷心感谢,感谢范总一直以来对莱驰科技品牌和产品的信赖,范总同时也很感谢莱驰科技长期以来热情周到的服务。他讲到,之所以选择莱驰科技的产品主要是因为多功能粒径及粒形分析仪CAMSIZER X2在水泥的颗粒形貌检测方面技术遥遥领先,同时也完美契合集团现在的仪器需求。
范总表示,莱驰科技的产品在国际上一些知名企业均有应用,比如拉法基,海德堡。过去水泥行业注重颗粒大小的检测,随着国家高质量发展的战略的实施,天津水泥工业设计研究院有限公司在水泥的高性能发展这块有很大的发展创新,这就需要公司对颗粒的形貌、颗粒的级配方面有一个准确的把控,天津水泥工业设计研究院有限公司是研究水泥及水泥制品的企业,对水泥颗粒形貌和粒径分布的了解与掌握对水泥产品的质量控制是至关重要的,也对水泥产品的推广提供了契机。随着水泥行业对水泥高性能的需求,范总相信莱驰科技这一专业粒度仪品牌将会在水泥行业取得更好的发展空间。同时范总也希望能与莱驰科技携手共进,创造一个共赢的市场。
作为代表中国水泥行业装备开发和技术水平的领头羊,天津水泥工业设计研究院有限公司推动了中国水泥工业装备开发与制造能力的不断增强。莱驰科技愿与天津水泥工业设计研究院有限公司一起为中国水泥工业的发展做出贡献,也祝愿天津水泥工业设计研究院有限公司在未来创造更加辉煌的业绩。
天津水泥工业设计研究院有限公司新采购的Retsch Technology(莱驰科技)的多功能粒径及粒形分析仪CAMSIZER X2,主要应用是检测和分析水泥的粒度分析和颗粒形貌。因此,我们推荐客户使用CAMSIZER X2配备一个X-Dry干法模块,同时配备自由落体和压缩空气两种分散模块来分散样品。对于水泥这种传统样品,采用空气压缩机来提供压缩空气,通过压缩空气将水泥样品吹散,之后对分散的样品进行测量,测量完毕的样品被进口的吸尘器采集收走。这是一套完整的系统,测量完毕的数据通过电脑软件直接统计分析,最终得到我们的结果。另外,我们还配备了仪器专用的光刻板,用来校正仪器,在后续使用过程中可以直接进行无损校正。
Camsizer X2是在Camsizer获得巨大成功后推出的新一款粒度及粒形分析仪,采用了更高分辨率的光学系统,提供更多的分析模块可选。粉体颗粒的尺寸越小越容易发生团聚现象,以往的粒度分析技术由于解决不了分散问题而得不到准确且具有重现性的分析结果,而Camsizer X2可选的X-Fall、X-Jet和X-Flow三种模块可让您根据不同的应用和要求进行样品分散。由于Camsizer X2具有足够的进样量,检测过程也不受其他因素(如折射率)影响,因此Camsizer X2能够准确测量到粉体的整体形态信息,比如球形度、对称性等。
CAMSIZER? X2
粒度及粒形分析技术的新里程碑
Δ 测量范围0.6μm-8mm,依据ISO13322-2动态图像分析技术标准
Δ X-Fal l(自动振动进样)、X-Jet(压缩空气分散进样)、X-Flow(湿法分散进样)三种可选分析测量模块,互相切换简单快速
Δ 专利的双CCD图像分析技术,在宽量程范围内,无需硬件调整,即可完成测量
Δ 可对颗粒形态进行测量与分析,如纵横比、球形度、对称性、破碎度等
Δ 对于易团聚的粉体颗粒测试重复性佳
Δ 可与筛分结果进行拟对