Scanning Thermal probe system热扫描探针系统，可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形� &纳米尺度的热导率以及温度分布＋�span>非常适合应用在纳米线/碳纤�?聚合物复合材料等领域

模块性能９�/span>

可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试

1� 温度：�/span>

2� 温度梯度变化曲线：�/span>

3� 定性热导率：�/span>

4� 相变温度：�/span>

5� 定性热容量：�/span>

模块优势９�/span>

1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半；

2）精细测量，能达�?0nm区域测温：�/span>

3）耐高温，针尖�?00℃高温下也不易变形；

模块扫描机制９�/span>

目前国内的国家纳米科学中心，中山大学，美国希捷硬盘公司在华的工厂均采购了这个模块、�/p>

以下是一些典型的SThM热导率测试以及温度分布的测试案例９�/p>

1）左半部刅�/span>纳米线的形貌图以及温度分市�/span>的对应，右半部分为碳�?Bi2Te3（热电材料）的形貌图以及热导率图对应、�/p>

2（�/span>碳纤维与环氧树脂复合材料形貌与热导率对应

3）聚合物纤维PCL-Coll_形貌与温度分布对库�/p>