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纳米粒度测量——先进的动态光背散射技?/strong>
Zeta电位测量9/span>Microtrac MRB以其在激光衍?散射技术和颗粒表征方面的独到见解,经过多年的市场调研和潜心研究,开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术,融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比,NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,完全消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,结果准确可靠,重现性好、/span>
测量原理9/span>
粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处琅/span>
Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率
分子量测量:水力直径或德拜曲纾/span>
光学系统9/span>
3mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路
软件系统9/span>
先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输?输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积?微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符?1 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和指定授权等、/span>
外部环境9/span>
电源要求?0-240VAC?A?0/60Hz
环境要求:温度,10-35°C
国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 ISO22412:2008
主要特点9/span>
采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱泔/span>
“Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位 避免样品交叉污染与浓度变化、/span>
异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性、/span>
可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度、/span>
超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性、/span>
快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method?迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间、/span>
膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度、/span>
无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结枛/span>
消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度、/span>
粒度分析范围 | 0.3nm-10µm |
重现?/td> | 误差?% |
浓度范围 | 100ppb-40%w/v |
检测角?/td> | 180° |
分析时间 | 30-120科/td> |
准确?/td> | 全量程米氏理论及非球形颗粒校正因孏/td> |
测量精度 | 无需预选,依据实际测量结果,自动生成单?多峰分布结果 |
理论设计温度 | 0-90℃,可以进行程序升温或降?/td> |
兼容?/td> | 水相和有机相 |