硅漂移探测器（SDD）设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外，高性能探测器能提高计数率，增加探测痕量元素的精密度，并且实现测量较轻元素的**能力。为了确保高生产率，将黄铜中镉的筛查（通常是XRF RoHS筛查中具挑战性的一项）功能设计成比传统型号速度更快，从而大幅提高通量、�br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/>
该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1280一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况，由此可增加测量多件样本的通量，从而节省时间且不会影响质量计划、�br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/>
除了RoHS筛查，EA1280也能够辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分、�/p>