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倒计时丨泽攸科技场发射台扫即将亮?024年全国电子显微学学术年会
深入理解先进材料的微观形貌、结构和化学成分是科研和产品开发的关键所在。不论是从事下一代创新材料的研究，还是致力于提升产品开发和制造水平，掌握材料的微观特性都是至关重要的。为了助力科研人员更深入地理解材料的微观世界，泽攸科技即将?0?7日的2024年全国电子显微学学术年会上隆重推出创新产品——ZEM Ultra场发射台式扫描电镜?nbsp;
ZEM Ultra台式扫描电子显微镜，继承了ZEM系列一贯的优良传统，不仅具有快速成像、全自动操作等特点，具备抗震性和稳定性。ZEM Ultra配备了高亮度肖特基场发射电子源，能够提供2纳米分辨率的图像，并且支持高?0万倍的放大倍数。这款电镜不仅可以进行二次电?SE)成像，还能进行背散射电子(BSE)成像，并兼容能量色散X射线光谱?EDS)和电子背散射衍射(EBSD)，为用户提供丰富的分析手段。无论是金颗粒还是碳纳米管，无论是磷酸铁锂还是二氧化硅，ZEM Ultra都能轻松应对，为科学研究提供强大的工具支持、/span>
二氧化硅与磷酸铁锂案例展礹/span>
碳纳米管与钨粉案例展礹/span>这款设备展示了泽攸科技对于技术创新的不懈追求，我们诚挚邀请您莅临2024年全国电子显微学学术年会，共同见证泽攸科技新品的发布，探索微观世界的无限可能、/span>
以上就是泽攸科技场发射台扫即将亮?024年全国电子显微学学术年会的介绍、/span>
泽攸科技 2025-02-11 | 阅读?5
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