透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断、�/p>

产品介绍/ INTRODUCTION

透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断、�span style="background-color: rgb(223, 235, 249); color: rgb(0, 85, 184); font-size: 20px;">产品特点/ CHARACTERISTIC

� ⾃主弯晶器件

� ⾼能谱分�?/p>

� 宽能谱范図�/p>

� 可切换式探测模组

� 全谱直读

� 可切换式激光准直系绞�/p>

主要参数/ PARAMETERS

� 光学系统结构: 透射弯晶系统

� 分光器件� α-Quartz<10-11>

� 能量分辨率： 优于100eV@20keV

� 探测器类型： 可切换式IP松�/p>

� 激光器切换重复精度� ±10μm

测试数据/ TEST DATA

选配范围(⽀持定�?