四探� 方阻 电阻率测试仪

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美� A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试、�/span>

FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表：�/span>本仪器采�?/span>4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚�?/span>、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美� A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试、�/span>

四探� 方阻 电阻率测试仪

规格型号	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方块电阻范围	10-5�?��105��/■�/span>	10-4�?��103��/■�/span>	10-3�?��105��/■�/span>	10-3�?��103��/■�/span>	10-2�?��105��/■�/span>	10-2�?��103��/■�/span>
2.电阻率范図�/span>	10-6�?��106��-cm	10-5�?��104-cm	10-4�?��106��-cm	10-4�?��104-cm	10-3�?��106��-cm	10-3�?��106��-cm
3.测试电流范围	0.1��A�?#956;A�?��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA	1��A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA	0.1��A�?#956;A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA	1��A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA	0.1��A�?��A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA	1��A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA
4.电流精度	��0.1%读数	��0.2%读数	��0.2%读数	��0.3%读数	��0.3%读数	��0.3%读数
5.电阻精度	�?.3%	�?.3%	�?.3%	�?.5%	�?.5%	�?.5%
6.显示读数	大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚�?/span>、电导率
7.测试方式	双电测量
8.工作电源	输入: AC 220V��10% �?0Hz办�/span>耗：<30W
9.整机不确定性误�?/span>	�?%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件� 选购2.方形探头� 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头	探针间距选购�?mm�?mm�?mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨钇�白钢针；镀金磷铜半球形钇�/span>

四探� 方阻 电阻率测试仪

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试�?/span>

FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester

一.应用说明Widely used９�/span>

覆盖膛�导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗� 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测诔�/span>

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材�?晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜� EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择＋�/span>

二．描述Description９�/span>

采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补�?高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处�?

规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-347

1.方块电阻sheet resistance 10-5�?��105��/�?0-4�?��105��/�?0-3�?��105��/�?0-3�?��104�� /�?0-2�?��105��/�?0-2�?��104��/■�/span>

2.电阻率Resistivity 10-6�?��106��-cm10-5�?��106��-cm10-4�?��106��-cm10-4�?��105��-cm10-3�?��106��-cm10-3�?��106��-cm

6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚� 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪

.型号及参数Models and technical parameters

规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-336

1.方块电阻范围Sheet resistance 10-5�?��105��/�?0-4�?��105��/�?0-3�?��105��/�?0-3�?��104��/�?0-2�?��105��/�?0-2�?��104��/■�/span>

2.电阻率范围Resistivity 10-6�?��106��-cm10-5�?��106��-cm10-4�?��106��-cm10-4�?��105��-cm10-3�?��106��-cm10-3�?��105��-cm

6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚� 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement

温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联�?--瑞柯仪器

温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测�?次方�?次方；，双电测四探针测试仪测�?5次方�?次方，单电测四探针测试仪-5次方�?次方＋�/span>

我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪�?/span>

双电测四探针测试�?/p>