X-ray� DAGE X-ray� DAGE7500� DAGE7600� 7600NT� 7600NT Ruby� 7600NT Ruby FP�?600NT Diamond� 7600NT Diamond FP�?500VR Jade FP� X光机� DAGE X光机� DAGE X光检查机� DAGE X光检测系绞�/span>� X射线检测系绞�/span>�无损检测系绞�/span>� X射线实时成像� 工业CT� 3D

X-Plane^TM分析系统–�/span>X光检测系统选件

无损切片检测大尺寸样品内部任一层面

优势

��从不同角度（从上到下、从前到后、从左到右）观察样品内部的任一切片、�/span>

��待测样品可以位于整个待测区域18� �� 16� (457mm�� 406mm)内的任意位置

��不需要裁剪或者破坏样�?/span>

��可以在高放大倍率下工佛�/span>

��可应用在Nordson DAGE Diamond FP＋�/span>Diamond＋�/span>Ruby FP＋�/span>Ruby筈�/span>X光检测系统上

应用

��可以显示凹�/span>BGA＋�/span>CSP＋�/span>QFN＋�/span>LGA等接合面的气泡以及其他缺陷的位置和尺寷�/span>

��识别枕头效应(HoP)和虚焉�/span>

��分离并检浊�/span>Package on Package(PoP)戕�/span>MCM封装结构内部的不同断屁�/span>

��可以将被物件2遮挡的物仵�/span>1的细节提取出�?/span>

��检测贯穿孔的填充质野�/span>

��识别组件的倾斜度以及翘曲度

��分析触点

��检测某个层面的沟道状�?/span>

��虚拟切片

系统描述

Nordons DAGE已申�?*皃�span>X-Plane^TM技术快速、简单、易用。样品置亍�span>NordsonDAGE皃�span>X光检测系统中，从360��皃�/span>不同角度采集待测区域的二维图像。所有二维图像采集完毕后，被转换成一套三维数据包。利�?span>X-Plane^TMViewer软件可以对上述三维数据包进行任一方向的切片和分析、�/span>

X-Plane^TM技术使用了Nordson DAGE皃�span>X光检测系统一贯支持的、专为二维图像提供的优质的亚微米细节识别技术、�/span>

在不切割大尺寸样品的情况下，X-Plane^TM技术为样品提供了高分辨率、高放大倍率皃�span>CT图像、�/span>