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EDAX Orbis微束X射线荧光能谱�?strong>(Micro XRF)

Orbis可以对各种类型、尺寸的样品进行先进的无损元素分析，不需样品制备，不需涂层。它可以对多元素进行快速同步的X射线检测，含量灵敏度从百万分之几到100%。用户可以对小样品进行元素分析，如颗粒，碎片和夹杂物，也可以对大样品进行自动多点和成像分析、�/span>

Orbis是一款台式仪器，可以在空气或低真空条件下，测量从Na�?span>BK的元素。因丹�span>X射线具有穿透力和较大的光斑＋�span>Orbis比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品、�span>Orbis Vision软件强大易用，可提供精确的元素分析、�/span>

创新皃�/span>X射线光学/视频器件几何设计

Orbis安装了垂直于样品的先进的X射线光学器件和高质量的视频像机，适合更大范围的样品形状。这种创新的设计提供了真正的‛�/span>你所看到的就是你所分析皃�span>“�/span>的能力。由亍�span>X射线束的阻挡而导致的错误测量，可以很容易地被检测到。如果相机的视野受到阻挡＋�span>X射线也会受到阻挡。当测量有地形的样品时，可以消除X射线束的阴影。此外，在仪器设计的工作距离外，定性分析更容易、�/span>

广泛的应�?/span>

Orbis适合各种应用，包括刑事取证、工业质量控制和无损检测，还有材料、电子和地质样品分析、�/span>

Orbis型号

Orbis有两个型号：Orbis SDD咋�span> Orbis PC SDD。两个型号都使用Orbis Vision软件，都有多个选项，覆盖广泛的需要高精度非破坏性元素分析的应用、�/span>

Orbis SDD X射线荧光能谱�?/span>

Orbis SDD X射线荧光能谱仪非常适合需要分析大颗粒或大特征的应用，例如刑事取证和工业质量控制。该仪器配备行业**的电制冷探测器（SDD）和10倌�/span>/100倍彩色摄像机，配备了300��M单毛细管光学器件，入射束过滤系统，精密电�?/span>XYZ样品台和DPP分析器、�/span>

Orbis的设计消除了样品地形阻碍X射线束带来的不正确样品分析、�/span>

标准配置９�/span>

�铑管＇�/span>50kV＋�/span>50W（�/span>

� 300��M单毛细管光学器件

� 自动入射束滤光系统（打开位置�?个过滤器，快门）

� 双CCD相机�?0��，彩色；100x，彩艱�/span>

� 先进�?0mm2电制冷探测器（SDD（�/span>

� 精密电动XYZ样品�?/span>

� 样品室：真空或空氓�/span>

� 电子数字信号分析�?/span>

� 操作软件：自动分析和定量程序，包括：

　1. 有标样或无标样基本参数分枏�/span>

　2. 使用基本参数分析在轻元素矩阵中进行痕量元素分枏�/span>

　3. 使用标样校准进行半经验分枏�/span>

选项９�/span>

�样品室视窖�/span>＇�/span>124mm �� 124mm可视范围（�/span>

� 先进�?0mm2硅漂移探测器（SDD（�/span>

� 钼管�?0kV�?0W（�/span>

� 100��M单毛细管光学器件（替�?00��M单毛细管光学器件（�/span>

� 与单毛细管光学器件连接的自动准直仪（1 mm�? mm），通过软件控制选择

� 软件：谱面分布，图像处理，线扫描，涂层分析，谱匹配，合金识别和离线数据处理软仵�/span>

Orbis PC SDD X射线荧光能谱�?/span>

Orbis PC SDD X射线荧光能谱仪是Orbis SDD的升级版，非常适合分析小样本或快速测量。该仪器配备先进的电制冷探测器（SDD），�?倍数码变焦的增强彩色摄像机，和一�?0微米的多毛细管光学器件。Orbis PC SDD的样品定位器采用升级的XYZ样平台，具有更高的定位精度、�/span>

标准配置９�/span>

�铑管＇�span>50kV＋�span>50W（�/span>

� 30��M超高强度多毛细管光学器件(FWHM @ MoK��)

� 自动入射束滤光系统（打开位置�?个过滤器，快门）

� 双CCD相机�?0��，彩色；75��，彩色，�?��数字变焦

� 先进�?0mm2硅漂移探测器（SDD），无需液氮致冷

� 高精密电脑控制XYZ样品�?/span>

� 样品室：真空或空氓�/span>

� 电子数字信号分析�?/span>

� 操作软件：自动分析和定量程序，包括：

　1. 有标样或无标样基本参数分枏�/span>

　2. 使用基本参数分析在轻元素矩阵中进行痕量元素分枏�/span>

　3. 使用标样校准进行半经验分枏�/span>

选项９�/span>

�样品室视窖�/span>＇�span>124mm �� 124mm可视范围（�/span>

� 先进�?0 mm2硅漂移探测器（SDD（�/span>

� 钼管�?0kV�?0W（�/span>

� 与单毛细管光学器件连接的自动准直仪（1 mm�? mm），通过软件控制选择

� 软件：谱面分布，图像处理，线扫描，涂层分析，谱匹配，合金识别和离线数据处理软仵�/span>

骨化矲�span>Ca-P-Si元素面分布图，使用红、绿和蓝色混合器创建覆盖、�/span>