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已认?/p>

ST2258C型多功能数字式四探针测试?/div>
报价9span>9800兂/span>
品牌9/td> 晶格电子
产地9/td> 苏州
关注度: 1929
型号9/td> ST2258C垊/td>
核心参数

测量范围9span>10.0×10^-6 k×200.0×10^3 Ω-cm

误差率:0.5%

分辨率:0.5%

仪器原理9span>电阻式计?/span>

产品介绍

ST2258C型多功能数字式四探针测试?/p>

886.jpg

二、概?/span>ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美?nbsp;A.S.T.M 标准
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,分?0类
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻?方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻?方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻
测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试?nbsp;
三、基本技术参?/span>1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级
?nbsp; 阻:10.0×10-6?nbsp;200.0×103Ω, 分辨?.0×10-6?nbsp;0.1×103Ω
?.0×10-6?nbsp;20.00×103Ω, 分辨?.1×10-6?nbsp;0.01×103Ω
?nbsp;?nbsp;率:10.0×10-6?nbsp;200.0×103Ω-cm 分辨?.0×10-6?nbsp;0.1×103Ω-cm
?.0×10-6?nbsp;20.00×103Ω-cm 分辨?.1×10-6?nbsp;0.01×103Ω-cm
方块电阻?0.0×10-6?nbsp;1.0×106Ω/?nbsp; 分辨?.0×10-6?nbsp;0.5×103Ω/?nbsp;
?.0×10-6?nbsp;100.0×103Ω/?nbsp; 分辨?.5×10-6?nbsp;0.1×103Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
?nbsp; 径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15?30mm,手持方式不
SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不?
??度: 测试台直接测试方?nbsp;H?00mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均
3. 量程划分及误差等?nbsp;

满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常规量程 kΩ-cm/■/span> kΩ-cm/■/span> Ω-cm/■/span> mΩ-cm/■/span> ---
**拓展量程 --- kΩ-cm/■/span> Ω-cm/■/span> mΩ-cm/■/span> mΩ-cm/■/span>
基本误差 ±2%FSB±4LSB ±1.5%FSB±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB±4LSB ±1.0%FSB±4LSB

4.工作电源?20V±10? f=50Hz±4?PW?W
5.外形尺寸?nbsp;245mm(长)?20 mm(宽)?5mm(高?nbsp;
净 重:?.5?.0kg


联系人:王经琅/strong>

联系电话?3656 225155

微信?3656 225155

客服经理-王娟.jpg

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工商信息
企业名称

苏州晶格电子有限公司

企业类型

信用代码

91320506553771630T

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