Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方桇�/p>

仪器型号９�/strong>Z3000 Standard

工作原理９�/strong>

粒度分布９�/strong>动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS（�/p>

ZETA电位９�/strong>多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS（�/p>

检测范围：

粒径范围0.3nm-10.0μm

ZETA电位+/- 500mV

NicompZ3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范� 0.3nm � 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有**技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本、�/p>

技术优劾�/span>

1�?/span>APD&PMT双检测器：�/p>

2�?/span>多角度检测（multi angle）模块；

3�?/span>可搭配不同功率光源；

4�?/span>双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次：�/p>

5�?/span>钯电�?span style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; max-width: 100%;">：�/span>

6�?/span>精确度高�?接近样品真实值；

7�?/span>复合型算法：

高斯（Gaussion）单峰算法与**的Nicomp多峰算法自由切换

相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切捡�/p>

8�?/span>快速检测，可以追溯历史数据：�/p>

9�?/span>结果数据以多种形式和格式呈现：�/p>

10�?/span>符合USP,CP等个多药典要求；

11�?/span>无需校准：�/p>

12�?/span>复合型算法：

�?（�/span>高斯（Gaussion）单峰算法与**的Nicomp多峰算法自由切换

10�?/span>模块化设计便于维护和升级：�/p>

�?（�/span>可自动稀释模�?*：�/p>

�?（�/span>搭配多角度检测器：�/p>

�?（�/span>自动进样系统（选配）；

3000/MA多角度检测器

粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围�?0°-175，步�?.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度、�/p>