纳米粒度测量——先进的动态光背散射技�?/strong>

Zeta电位测量９�/span>Microtrac MRB以其在激光衍�?散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好、�/span>

测量原理９�/span>

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处琅�/span>

Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率

分子量测量：水力直径或德拜曲纾�/span>

光学系统９�/span>

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统９�/span>

先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输�?输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积�?微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符�?1 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等、�/span>

外部环境９�/span>

电源要求�?0-240VAC�?A�?0/60Hz

环境要求：温度，10-35°C

国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 � ISO22412:2008

主要特点９�/span>

� 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱泔�/span>

� “Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位� 避免样品交叉污染与浓度变化、�/span>

� 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性、�/span>

� 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度、�/span>

� 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性、�/span>

� 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method�?迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间、�/span>

� 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度、�/span>

� 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结枛�/span>

� 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度、�/span>

产品参数