导航&防碰撝�/h3>

光学导航

想看哪里点哪里，导航更轻杽�br style="margin: 0px; padding: 0px; box-sizing: border-box;"/>标配仓内摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品、�/p>

手势快捷导航

可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航
如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率、�/p>

防碰撞技�?/h5>

采取多维度的防碰撞方案：
1. 手动输入样品高度，精准控制样品与物镜下端距离，防止发生碰撞；
2. 基于图像识别和动态捕捉技术，运动过程中对仓内的画面进行实时监测；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬间停止电机，减少碰撞损伤�?*SEM3200A需选配此功能）

特色功能

智能辅助消像敢�/h5>

直观反映整个视野的像散程度，通过鼠标点击清晰处，可快速调节像散至**、�/p>

自动聚焦

一键聚焦，快速成像、�/p>

自动消像敢�/h5>

一键消像散，提高工作效率、�/p>

自动亮度对比�?/h5>

一键自动亮度对比度，调出灰度合适图像、�/p>

多种信息同时成像

SEM3200软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息咋�br style="margin: 0px; padding: 0px; box-sizing: border-box;"/>成分信息、�/p>

快速图像旋�?/h5>

拖动一条线，图像立刻“摆正角度”、�/p>

丰富拓展�?/h3>

扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析、�br style="margin: 0px; padding: 0px; box-sizing: border-box;"/>SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成、�/p>

背散射电子探测器
二次电子成像和背散射电子成像对比

背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息、�/p>

镀层样品：

钨钢合金样品９�/p>

四分割背散射电子探测器——多通道成像

探测器设计精巧，灵敏度高，采�?分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像、�/p>

四个单通道的阴影像

成分僎�/p>

能谱

LED小灯珠能谱面分析结果�?nbsp;

电子背散射衍尃�/h5>

钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析、�br style="margin: 0px; padding: 0px; box-sizing: border-box;"/>该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断、�/p>