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麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会圆满结束
2011??9?7?5日，麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授?00位专家学者参与了此次大会.
研讨会主题为物理吸附与化学吸附的理论与实践，麦克仪器资深专家Jeff Kenvin博士不/span>Jacek Jagiello博士，报告了物理吸附与化学吸附基本理论，并与实践经验相结合，引起与会专家学者和业内同仁们热烈的反响和讨论、br />
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美国麦克仪器 2011-08-01 | 阅读?251
