仪器简介：
电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析工具、�br/> HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统，结合了Jobin Yvon光谱技术制造的光谱仪模块，具有高灵敏度性能，适用于弱信号测量。可同时配备两个探测器，以获得更大光谱范围、�/span>

主要特点９�br/>�?nbsp;反射镜直接耦合
�?nbsp;高灵敏度
�?nbsp;扫描成像、线扫描、点测量
�?nbsp;多种光栅选项
�?nbsp;多种焦长光谱仪选项�?20mm-550mm
�?nbsp;可配双探测器以获得大光谱范围�?85nm-2500nm

重点应用领域９�br/>阴发光光谱仪（CL）是用来表征材料中的缺陷，元素和杂质追踪的强大分析工具，广泛适用于各个应用领域、�/span>

1、材料科�?/strong>

�?nbsp;半导体和光电材料
�?nbsp;介电/陶瓷
�?nbsp;氧化物膜
�?nbsp;玻璃
2、矿物、地�?/strong>
�?nbsp;碳酸�
�?nbsp;晶体
�?nbsp;金刚�
�?nbsp;锆石、方解石、白云石

3�?span style="font-family: 宋体;">生命科学
4�?/span>公安

CL光谱及成像：

■CL光谱９�/strong>使用CL测量光谱时，可在电镜下观察并选择待测样品区域、�/span>	■快速CL成像９�/strong>将扫描电子束与您的光谱仪同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系统测量的GaN样品，测量中使用了超快SWIFTTM成像模式、�/span>
矿物样品中的白云石和磷酸钙。测量使用Flex-CLUE系统，配备iHR320光谱仪和开放电式CCD探测器。感谢Prof A. Jambon, UPMC France提供数据	左图：使用伪彩色显示350nm-450nm之间发射光谱区。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中图：电镜下的样品图像。figure 2, SE image 右图：对应的光谱，其中不同色彩区域与左图中显示的颜色对应。figure 3, CL spectral (RGB)