2023/11/10 阅读?25
方案摘要
要检测多少粒子?
AccuSizer®系统
AccuSizer®生成的结果是粒度分布。分布的属?/span>受统讠/span>规则的约束。使用粒度分析仪时,一个重要的问题是需要测量多少样品才能正确定义所得粒度分布。本技术说明从数学和实验两个方面解决这个问题、/span>
介绍
如果样品中的所有颗粒大小完全相同,则测量一个颗粒并报告结果。如果样品的分布很窄,比如说10‒/span>25μm,那么也许只测量少量颗粒就可以定义粒度分布。但是,如果样品具有广泛的分布,那么可能需要测量数千个颗粒以完全定义实际粒度分布、/span>
我们还需要询问哪个结果令人感兴趣。如果我们只对中间值感兴趣,例如粒子的中位数,那它必须要被测量。就像我们关注累计粒度分布一样,例如D90戕/span>D95、/span>
与粒度分析的许多其他方面一样,在开始测量过程之前,最好先定义所需的内容以及数据的呈现方式。在确定要测量的样品量(使用计数技术,妁/span>AccuSizer时要分析多少的颗粒数量)的情况下,需要对分布的宽度有一定的了解,然后才能定义所需的实验参数,例如要测野/span>/计数的颗粒数量或运行实验的时间、/span>
标准误差泔/span>
让我们首先考虑要测试多少颗粒子,以便获得高斯分布平均值。在粒度分析领域使用了几种不同的粒度平均值,这一事实将在本文档后面进行讨论。具有样本量的样本的标准误差是样本除?/span>n的平方根的标准差,如等式1所示、/span>
等式1
SE=标准误差
n =计数粒子?/span>
所?/span>
n = s/SE2等式2
如果样品的标准偏差为2,我们可?/span>接受2%的标准误差,那么需要测量的粒子数为
n = 2/(0.02)2= 5000
这个要测量的5000?/span>粒子的值,可以作为一个比较好的测试初选——但前提是我们只对平均值感兴趣、/span>
ISO 13322-1标准
ISO 13322-1标准《粒度分枏/span>-图像分析方法‒/span>?/span>1部分:静态图像分析方法》中很好地描述了应取样多少颗粒才能获得满意结果的主题.1ISO标准中描述的方法基于Masuda咋/span>Innoya发表的工佛/span>.2下面给出这种方法的简短摘要。要分析的粒子数n由下式给出:
等式3
K=数值由置信限、粒子分布和其他参数数值确宙/span>
等式4
等式5
概率P可以不/span>u相关,如下表1所示:
概率 |
u |
50% |
0.67 |
75% |
1.15 |
80% |
1.28 |
90% |
1.64 |
95% |
1.96 |
97.5% |
2.24 |
99% |
2.58 |
99.5% |
2.81 |
99.8% |
3.09 |
99.9% |
3.29 |
?.概率百分比与u之间的关系、/p>
?/span>2显示了使用公弎/span>4分析所需的颗粒数n*,允许误差为5%,作为样品几何标准偏?/span>σGSD的函数。在这里,概玆/span>P取为P = 0.95(表1中的u = 1.96)、/span>
几何标准?/span> |
n*(DMM) |
n*(Sauter) |
n*(DMV) |
1.1 |
585 |
389 |
131 |
1.15 |
1460 |
934 |
294 |
1.2 |
2939 |
1808 |
528 |
1.25 |
5223 |
3103 |
843 |
1.3 |
8526 |
4920 |
1274 |
1.35 |
13059 |
7355 |
1750 |
1.4 |
19026 |
10504 |
2363 |
1.45 |
26617 |
14457 |
3096 |
1.5 |
36007 |
19295 |
3956 |
1.55 |
47358 |
25093 |
4952 |
1.6 |
60811 |
31919 |
6092 |
?.粒子粒子 n* 作为几何标准偏差σGSD的函数、/p>
?/span>2中的第一列是样本分布的宽度,以几何标准差σGSD表示。需要注意的是,表中显示最大的σGSD倻/span>1.6实际上不是很宽,因此许多样本会超过这个值。因此,对于宽度未知的样本,应参考最后一行。第二列到第四列显示要分析的粒子?/span>n*,具体取决于感兴趣的平均值。通常使用质量中值直徃/span>'/span>DMM),因此大多数样品应参考第二列、/span>
因此,一个好的经验法则是,当使用AccuSizer并转换为体积分布时,最好分析大?/span>60,000?/span>颗粒,以获得高置信度的结果、/span>
实验
前面的标准误差示例和ISO 13322-1中采用的方法表明,应分析5,000?/span>60,000?/span>颗粒,以在计算平均值中具有较高的置信水平。进行了一项实验,将实际测量值与理论极限进行比较。样品是分散在水中的水合氧化铝粉末,并使?/span>AccuSizerSIS系统,连?/span>LE400传感器测量;动态范図/span>0.5‒/span>400μm。分析的样品体积?/span>0.05臲/span>2 mL之间变化,以改变分析的颗粒数量。表3和图1显示亅/span>D10?/span>D50咋/span>D90*与分析颗粒数的函数关系、/span>
#大小 |
D10 |
D50 |
D90 |
442 |
8.5μm |
13.82μm |
21.65μm |
2579 |
8.3μm |
13.82μm |
20.99μm |
5213 |
8.73μm |
13.82μm |
21.71μm |
11364 |
9.47μm |
15.39μm |
25.63μm |
13196 |
10μm |
16.24μm |
25.02μm |
16748 |
17.41μm |
24.07μm |
44.11μm |
37688 |
17.14μm |
29.42μm |
50.45μm |
?.粒径 D10、D50 D90的对比、/p>
?.粒子数量与D10、D50和D90、/p>
从图1所示的数据中可以观察到一些结果和结论,如下:
•统计的粒子数≣/span>11,364时的结果似乎是错误的,所有值都偏低、/span>
•至少需要对16,748?/span>样本进行分析,才开始获得接近准确的结果、/span>
•当分枏/span>颗粒数太少时+/span>D90中的误差大于D10戕/span>D50中的误差、/span>
•在统计至5,213个粒子时,很容易中止这个实验,并说服自己结果是准确的-然而事实上是完全错误的、/span>
D90中的放大误差值得额外考虑。在许多行业中,少数大颗粒导致大问题。在微电子工业中+/span>CMP研磨液中的一些大颗粒会导致表面缺陷,从而降低产量和利润。检浊/span>CMP研磨液中的大颗粒计数'/span>LPC(/span>需要在分布的尾部(D90右侧)进行充分的统计。因此,根据本文讨论的实验结果,应该分析更多的粒子(比建?/span>的粒子数更多),以准确定义分布的尾端粒子情况、/span>
结论
通过只分析几个粒子就获得准确的粒度分布式非常具有吸引力,但相当危险。也许可以只分析几个粒子,并获得非常窄的粒径分布。但对于更广泛的分布,应该分析非常多的颗粒(数以万计)来准确定义真正的粒度分布。当分布皃/span>D90或尾部的颗粒是重点关注对象时,分析的粒子数应该更高、/span>AccuSizer仍然是最好的分析仪器,可以轻松分析大量颗粒,既能准确定义分布,又能检测分布的尾部3、/span>
引用
1SO13322-1, Particle Size Analysis—Image Analysis Methods—Part 1: Static Image Analysis Methods, available at www.iso.org
2H. MASUDA & K. GOTOH, Study on the sample size required for the estimation of mean particle diameter, Advanced Powder Technol., 10(2), 1999, pp. 159-173
3EntegrisApplication Note - Tails in CMP Slurries
*90%的分布低亍/span>D90+/span>50%低于D50+/span>10%低于D10,见下文