日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F

JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰�?JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在�?低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升、�/span>

产品规格９�/span>

主要选配仵�/span>

可插拔式背散射电子探头（RBED（�/span>

高位二次电子探头（USD（�/span>

低真空二次电子探头（LV-SED（�/span>

能谱仪（EDS)

波谱仪（WDS（�/span>

电子背散射衍射系统（EBSD)

阴极荧光系统（CLD（�/span>

样品台导航系统（SNS（�/span>

电子束曝光系绞�/span>

产品特点９�/span>

JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰�?JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在�?低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA�?*束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜、�/span>

＜特点＞

JSM-7200F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜、�/span>

浸没式肖特基电子�?/span>

浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的**技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）、�/span>

TTLS（through-the-lens系统（�/span>

TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统� 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像�

此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此JSM-7200F能同时获取二次电子像和背散射电子像、�/span>

混合式物镜（电磁场叠加）

JSM-7200F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜�

这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率� JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品、�/span>