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日本JEOL离子切片仪EM-09100IS
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日本JEOL离子切片仪EM-09100IS

用于TEM 、STEM SEM EPMA AUGER样品制备的创新方 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度??)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备、/span>

产品规格

EM-09100IS

离子加速电厊/span>

1 8kV

倾斜觑/span>

Up to 6(0.1/?

离子束直徃/span>

500m(FWHM)

Milling rate

5m/min (加速电厊8 kV Si换算)

使用气体

氩气

**样品尺寸

2.8mm(长度)0.5 mm(宽度)0.1mm(厚度)

压力测试

潘宁觃/span>

主抽真空系统

涡轮分子泴/span>

CCD相机

内置

尺寸 重量

主机

500mm(W)600mm(D)542mm(H)?3kg

机械泴/span>

150mm(W)427mm(D)230.5mm(H)?6kg

液晶显示?/span>

326mm(W)173mm(D)380mm(H)?.7kg

安装条件

EM-09100IS

电源

单相 AC100 120V 50/60Hz 500 600VA

接地纾/span>

独立地线(100以下)

氩气

使用压力: 0.150.05MPa(1.0 2.0kg/cm2)

氩气流量:约0.2立方厘米

纯度: 99.9999%以上 (氩气、气瓶及调压器由客户自备)

金属配管连接叢JISB0203 RC1/8

室温

20 25?fluctuation: 1C/hor less变动少于1C/h)

湿度

60% 以下

*请提供安放设备的桌子、/span>

*产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更、/span>

产品特点9/strong>

用于TEM 、STEM SEM EPMA AUGER样品制备的创新方泔/span>

离子切片仪制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外,不需要溶剂或化学试剂及前处理(打磨或凹坑研磨),比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度??)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备、/span>

主要特点:

高质量的透射电镜样品的前处理

快速制夆/span>

无需复杂的前处理

*小限度的表面损伤

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