什么是Curve Tracing?

"Curve tracing"曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用powered curve tracing测试小型芯片的开�?短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片、�/span>

RTI's MT Century Curve Tracer

RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备�?多到96个channel，提�?种型号可供客戶选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有�?50系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口、�/span>

RTI's MultiTrace Test System

原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可�?*检测达625引脚� 它有各种尺寸可供选择，以满足*广泛用戶的需求、�/span>

MultiTrace 的应�?

�� 无源曲线追踪� (Unpowered Curve Tracing):

检测开路，短路和漏电流

�� 有源曲线追踪� (Powered Curve Tracing):

检测漏电流，供电电流问題� 测量大量有用的參�?/span>

�� 电源电流测量(Supply Current Measurements):

两种方法來測量电流供� �

A 6-Bus 系統可同時对3组电源測野�/span>

�� Latch Up 测试: (选配)

根据JESD 78 特征� 找出 Latch-Up 敏感� .

基础 Curve Tracing 的应�?

�� Input-Output 转换功能:

将输入电压接到引腳上，测量輸出引脚电平变�?

�� 对晶体管做曲线分枏�

检测任何型号的晶体箠�/span>

�� 显微鏠�

使用显微镜定位原件的损伤部位.

�� IDDQ 测试:

测量芯片每个状态的电流输入

�� 功能性的引导能力:

Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing

根据所輸入信息改变输入 Pin的状态，然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态、�/span>

�� Kelvin 4-Wire 阻力测试:

使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻測量、�/span>

RTI's MegaTrace 自动直流參數曲线追踪

MegaTrace�?48引脚开始一直到2160的引脚，因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微鏡，探针台，以及其他远程测试机器一起使用、�/span>

曲线追踪功能

�� Unpowered 曲线追踪 (连续测试)

�� Powered 曲线追踪

�� Supply Current Characterization (Idd 测试)

�� 6条总线系统�?VDD � 3 VDD 湔試

其它测量及测试功胼�/span>

�� Latch-Up 测试

�� 功能性预处理

�� 任何�?#177;15V 一& ��1A直流测量