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德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer
德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer的图?/></a></div></div></div> <div class=
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德国KSI-凯斯安i-Wafer垊/p>

全自动晶圆超声波缺陷检测系绞/span>

i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检浊/span>

新型KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点９/span>

- 扫描速度高达2000mm/s

- 新型换能?/p>

- 高质画面

- 同时使用1只?只?只换能器提高效能

- 能发现只有几微米的缺陶/span>

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