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半导体测试探针台KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S
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半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S

Model::KUP007

特点:

* x y z 15 mm-19mm-19mm

*分辨玆5微米

*线性运?/span>

磁铁底座/off-control(选项)

探索倾向

提示夹螺东/span>

同轴刀头固定螺针/span>

同轴端座箠/span>

三轴端固定螺针/span>

三轴端托箠/span>

(低泄漏电?100fA)

射频?W/E或N/S)

8寸雷射修补变温(负)探针量测系统

高温高湿真空气体照光Bending 可靠度量系统9/span>

低成本探针台9/span>

4英寸探针台:

EMP100CEMP100B

C 型探针台 Model:EMP50S

测量解决方案系统

EMP100C 探针?/span>

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