材料的热物理性质以及*终产品的传热优化在工业应用领域变得越来越重要、�/p>

经过几十年的发展，闪射法已经成为常用的用于各种固体、粉末和液体热导玆�/strong>�?strong>热扩散系�?/strong>的测量方法、�/p>

薄膜热物�?/strong>在工业产品中正变得越来越重要，如：相变光盘介质、热电材料、发光二极管（LED � ，相变存储器、平板显示器以及各种半导体。在这些工业领域中，特定功能沉积膜生长在基底上以实现器件的特殊功能。由于薄膜的物理性质与块体材料不同，在许多应用中需要专门测定薄膜的参数、�/p>

基于已实现的激光闪射技术，LINSEIS TF-LFA 薄膜导热测试�?Laserflash for thin films)可以测量80nm—�?0��m厚度薄膜的热物理性质、�/p>

1.瞬态热反射法（后加热前检测（RF））:

由于薄膜材料的物理性质与基体材料显著不同，必需要有相应的技术来克服传统激光闪射法的不足，即瞬态热闪射法、�/p>

测量模型与传统激光闪射法相同：检测器和激光器在样品两侧。考虑到红外探测器测试薄膜太慢，因此检测是通过热反射方法完成的。该技术的原理是材料在加热时，表面反射率的变化�?终用于推导出热性能。测量反射率随时间的变化，得到的数据代入包含的系数模型里面并快速计算出热性能、�/p>

2. 时域热反射法（前加热前检测（FF））:

时域热反射技术是另一种测试薄层或薄膜热性能（热导率，热扩散率）的方法。测量方式的几何构造被称为“前加热前检测（FF）”，因为检测器和激光在样品上的同一侧。该方法可以应用于非透明基板上不适合使用RF技术的薄膜层、�/span>

3. 瞬态热反射法（RF）和时域热反射法（FF）相结合:

两种方法可以集成在一个系统中并实现两者优点的结合、�/p>

温度范围*	RT
	RT -- 500��C
	-100��C -- 500��C
激光器	Nd:YAG 激先�/td>
脉冲电流	�?0mJ (软件控制)
脉宽	8 ns
激光探夳�/td>	HeNe-激光器 (632nm)� 2mW
前端热反�	Si-PIN-Photodiode� 有效直径: 0.8 mm�
	直流电压 � 400MHz� 响应时间: 1ns
后端热反尃�/td>	quadrant diode� 有效直径: 1.1 mm
	直流电压 � 100MHz� 响应时间: 3.5ns
测量范围	0�?1 mm2/s -- 1000 mm2/s
样品直径	圆形样品 ��10...20 mm
样品厚度	80 nm -- 20 ��m
样品数量	6样品自动进样�?/td>
气氛	惰性、氧化性、还原�?/td>
真空�?/td>	10E-4mbar
电路松�/td>	集成弎�/td>
接口	USB

*可更换炉佒�/p>

*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案、�/span>