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质朋仪器贸易（上海）有限公司
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产品简今/div>
台阶?膜厚仪ET4000系列产品参数
| **试片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
|---|---|
| 重现?/th> | 1σ 0.5nm以内 |
| 测定范围 | Z:100um X:100?05mm (Y移动野150~400mm) |
| 分解胼/th> | Z:0.1nm X:0.1um |
| 测定劚/th> | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
台阶?/strong>可以应用在半导体，光?太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面
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