三箱气体式冷热冲击试验箱广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业，国防工业、航天、兵工业、BGA�?span>PCB基扳、电子芯牆�span>IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量、�/span>

三箱气体式冷热冲击试验箱参数可选择如下９�/span>

实验箱冲击温度：高温+60｝�/span>150ℂ�/span>（固定）

低温A９�/span>(-10�-40�? B９�/span>(-10�-55�?D９�/span>( -10�-65�?（可选择其中一个低温配高温（�/span>

高温�?/span>�?/span>箱高�?/span>范围可达９�/span>+60 ~200�?

低温�?/span>�?/span>箱低�?/span>范围可达９�/span>-10℃~-75ℂ�/span>

高低温转换时间：�?0S

风门启动时间９�/span>≣�/span>3S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下（�/span>

预冷区降温速度９�/span> �?�?min（非线性）

预热区升温速度９�/span> �?�?min（非线性）

控制精度：温�?/span>��0.2ℂ�span>（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：�?.5ℂ�span>（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度均匀度：�?.0ℂ�span>（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

控制�?/span>采用原装进口微彩色计算机液晶显示触控式控制器OYO9226S＋�/span>120程度�?个段.每一個命令可道�/span>999欠�/span>;程式段時間設宙�/span>0｝�/span>99Hour59Min、�/span>

执行与满足标凅�/span>

1�?span>GB/T2423.1-1989低温试验方法：�/span>

2�?span>GB/T2423.2-1989高温试验方法：�/span>

3�?span>GB/T2423.22-1989温度变化试验：�/span>

4�?span>GJB150.5-86温度冲击试验：�/span>

5�?span>GJB360.7-87温度冲击试验：�/span>

6�?span>GJB367.2-87 405温度冲击试验、�/span>

曲线、数据的储存及处理：

1、标配USB2.0接口，储存读取数据及曲线并下载到电脑查看分析储存、�/span>

2、标配RS-232C 通讯界面，可双向操控机器及电脑硬盘储存资料、�/span>

3、以60秒采样计算可记录120天历史数据及曲线功能、�/span>

4、采样速率可以�?秒钟到一小时任意设定、�/span>

5、可通过因特网远距离监控机器运行情况，及远程操控机器（选购）、�/span>