电导�?塞贝克系数扫描探针显微镜

电导�?塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便�?*的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的第二仢�strong>电导�?塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在**代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度、�/span>

产品特点９�/strong>

+ **可以精确测量Seebeck系数二维分布的商业化设备、�/span>

+ 精确的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触、�/span>

+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备、�/span>

+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜、�/span>

主要技术参�?/strong>� + 位置定位精度：单� 0.05 ��m；双� 1 ��m + **扫描区域�?00 mm �� 100 mm 典型倻�/span> + 局部测量精度：5 ��m（与该区域的热传导有关） + 信号测量精度�?00 nV（采用高精度数字电压表） + 测量结果重复性：重复性误差优�?% + 塞贝克系数测量误差：< 3% (半导�?：� 5% (金属) + 电导率测量误差： < 4% + 测量速度：测量一个点的时�?-20科�/span>

应用领域９�/strong> 1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测野�/span> 2、测量功能梯度材料的梯度 3、观察材料退化效库�/span> 4、监� NTC/PTC 材料的电阻漂秺�/span> 5、固体电介质材料中的传导损耖�/span> 6、阴极材料的电导率损耖�/span> 7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变匕�/span> 8、样品的质量监控

系统组成部分

+ 三矢量轴定位平台及其控制�?/span> + 定位操纵杅�/span> + 加热、测温探钇�/span> + 力学接触探测系统 + 模拟多路�?/span>	+ 数字电压�?/span> + 锁相放大�?/span> + 摄像探测系统 + 带有专用控制软件和数据接口的计算朹�/span> + 样品台与样品夹具
样品夹具	加热测温探针

部分测试数据

1、塞贝克系数测量

Bi₂Te_2.85Se_0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）

2、接触电阻测野�/span>

存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针尖位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻、�/span>

接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中��R正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）

全球部分用户名单９�/span>

Beijing University of Technology

Corning Company

Korea Research Institute of Standards and Science

Shanghai Institute of Ceramics� CAS

Germany Air Force Research Lab

Simens Company

Gwangju Institute of Science and Technology

Hamburg University

Munich University