塞贝克系�?电阻测量系统ZEM-3

——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻

塞贝克系�?电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量�

设备特点９�/strong>

� 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

� 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

� 欧姆接触自动检测功能（V-I图）：�/span>

� 可以用适配器来测量薄膜：�/span>

� 可定制高阻型�

参数配置９�/strong>

型号	ZEM-3M8	ZEM-3M10
温度范围	50-800ℂ�/span>	50-1000ℂ�/span>
样品大小	方形2-4mm*6-22mmL 或� 圆形��2-4mm*6-22mmL
加热方式	红外加热
气氛	高纯氦气�?9.999%�
样品温差	MAX.50�
测量方式	电脑全自动测野�/span>

工作原理图：

设备结构�

样品腔部分：

应用方向９�/strong>

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析、�/span>

可选功能：

1. 薄膜测量选件

2. 低温选件（温度范�?100℃到200℃）

3. 高阻选件�?*�?0M��（�/span>

附：

热电材料/器件测试设备

热电材料测试设备	热电转换效率测试设备

用户单位

清华大学

中国科学技术大�?/span>

上海交通大�?/span>

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所