台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES�

美国easyXAFS公司**推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES（�/strong>，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等�

easyXAFS产品参数

X射线溏� XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷�?Pd/W) 能量范围: 5-12keV; 可达19keV 分辨玆� 0.5-1.5eV 样品塓� 7位自动样品轮 布拉格角: 55-85 deg

检测器: SDD 单晶尺寸: 球面单晶(Si/Ge) 直径10cm，曲率半�?00cm 软件: LabVIEW� 脚本扫描 扩展: 仪器可外接设备，控制样品条件 分析仪校凅� 预先校准，快速插拔更捡�/span>

easyXAFS产品优势

- 无需同步辐射光源

- 科研级别谱图效果

- 台式设计，实验室内使�?/span>

- 可外接仪器设备，控制样品条件

- 可实现多个样品或多种条件测试

- 操作便捷、维护成本低

easyXAFS应用案例谱图展示

1、XAFS300

2、XES100

� XES Mode

� XAFS Mode

easyXAFS已发表文竟�/span>

1. Jahrman� Seidler� et al.� J. Electrochem. Soc. 2019.

2. Jahrman� Holden� et al.� Rev. Sci. Instrum. 2019.

3. B��s� Ahopelto� et al.� J. Nucl. Mater. 2018.

4. Mundy� Cossairt� et al.，Chem Mater 2018

5. Jahrman� Seidler� and Sieber� Anal. Chem.� 2018

6. Holden� Seidler� et al.� J. Phys. Chem. A� 2018.

7. Stein� Holden� et al.� Chem. Mater.� 2018.

8. Padamati� Angelone� et al.� JACS� 2017

9. Mortensen� Seidler� et al.� Phys Rev B� 2017.

10. Valenza� Jahrman� et al.� Phys Rev A� 2017

11. Mortensen� Seidler� et al.� XAFS16 conference proceedings.

12. Seidler� Mortensen� et al.� XAFS16 conference proceedings.

13. Seidler� Mortensen� et al.� Rev. Sci. Instrum. 2014.